8月9日-11日,2023汽車測試及質量監控博覽會(中國)(TestingExpoChina–Automotive2023)在上海世博展覽館成功舉辦。上海測迅汽車科技有限公司(簡稱“測迅”)攜自研產品整車交通環境在環測試系統(VTEHIL)、
我司首席技術官呂濟明以《基于整車交通環境在環系統的智能駕駛測試技術研究》為主題展開了精彩演講。
深化創新驅動發展、大幅提升上海原始創新能力戰略研究
我們將進一步拓展產、學、研合作廣度與深度,為智能駕駛安全測試的發展藍圖增光添彩!
AI算法的自動駕駛系統需要進行場景覆蓋測試,與ADAS的典型場景測試相比,測試工作量大大增加,加速測試是自動駕駛系統開發的關鍵技術,測迅科技有什么創新方法?
我司技術總監呂濟明受工業和信息化部電子第五研究所邀請,出席智能駕駛安全技術專題論壇并做基于《整車交通環境在環系統的智能駕駛測試技術研究》報告。
8月9日-11日,2023汽車測試及質量監控博覽會(中國)(TestingExpoChina–Automotive2023)在上海世博展覽館成功舉辦。上海測迅汽車科技有限公司(簡稱“測迅”)攜自研產品整車交通環境在環測試系統(VTEHIL)、
我司首席技術官呂濟明以《基于整車交通環境在環系統的智能駕駛測試技術研究》為主題展開了精彩演講。
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我們將進一步拓展產、學、研合作廣度與深度,為智能駕駛安全測試的發展藍圖增光添彩!
AI算法的自動駕駛系統需要進行場景覆蓋測試,與ADAS的典型場景測試相比,測試工作量大大增加,加速測試是自動駕駛系統開發的關鍵技術,測迅科技有什么創新方法?
我司技術總監呂濟明受工業和信息化部電子第五研究所邀請,出席智能駕駛安全技術專題論壇并做基于《整車交通環境在環系統的智能駕駛測試技術研究》報告。